|
Productdetails:
Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:
|
| Nauwkeurigheidsklasse: | 0,05 | Toepassing: | Samenvoegende moduletest |
|---|---|---|---|
| Conventionele voltagewaaier: | 0-120V | Conventionele huidige test: | 0-20A |
| Frequentietest: | 45-65HZ | Nauwkeurigheid: | 0.002HZ |
| Actieve machtsnauwkeurigheid: | 0,05% | Reactieve macht: | 0,1% |
| Markeren: | 0.05% Substation Test Equipment,05% Materiaal van de Hulpkantoortest,0.002HZ het Materiaal van de hulpkantoortest |
||
De samenvoegende reeks van het Eenheidsproefsysteem MUE1
Slim van de het Materiaal Digitaal CT/VT Test van de Hulpkantoortest Samenvoegend de Eenheidsmeetapparaat
Compatibel systeem met iec61850-9-1, iec61850-9-2, iec61850-9-2LE, iec60044-FT3 Protocol
Technische Index
| Nauwkeurigheidsklasse | 0,05 |
| Conventionele voltagetest | |
| Waaier | 0-120V, die waaier 100V meten, 100/√3V |
| Regelbare waaier & nauwkeurigheid | 20%-150%, 0,05% |
| Conventionele huidige test | |
| Waaier | 0-20A, metend waaier 5A & 1A |
| Regelbare waaier & nauwkeurigheid | 1%-120% |
| Frequentietest | |
| Waaier | 45-65HZ |
| Nauwkeurigheid | 0.002HZ |
| De testnauwkeurigheid van de inputmacht | |
| Actieve macht | 0,05 klasse |
| Reactieve macht | 0,1 klasse |
| Optische vezelinterface | |
| 1 groepsst optische vezelinterface | |
| Het verzenden van macht | >-6dBm |
| Optisch ontvang gevoeligheid | -38dBm |
| Synchronisatiesignaal | |
| Optische synchronisatieinput & output | 2Nos |
| Optische synchronisatie irig-B (gelijkstroom) output | 1No |
| De tijdnauwkeurigheid van de synchronisatieoutput | dan beter 100ns |
| Voeding | |
| Inputvoltage | AC220V±10%, 50/60Hz |
| Machtsconsumptie | <20w> |
| Afmeting & Gewicht: 360x400x160mm, 7.5KGS | |
Eigenschap
1) De goedkeuring van hoge nauwkeurigheids standaardkrachtbron in drie stadia, hoge nauwkeurigheidsa/d gegevensverzamelaar, synchronisatie
prikklokeenheid, AC die basisnorm en MU testende eenheid bemonstert
2) Verrichting door PC-software
3) De goedkeuring van high-order synchronisatiealgoritme en 512times over bemonsteringstechnologie
4) De goedkeuring van LabView-taal en virtuele instrumententechnologie, vriendschappelijke HMI en geschikt voor verrichting
5) Met output van het simulatie de kleine signaal, realiseer veelvoudige het signaaloutput van het frequentie sinewave voltage
waaier 0-4V (RMS)
6) Nauwkeurigheidsfout en timing & communicatie prestatietest van samenvoegende eenheid met inzameling van
veelvoudige kanalen digitale of analoge input
7) De test van de nauwkeurigheidsfout van samenvoegende eenheid met analoge input van inzameling met conventionele VT en CT
8) Nauwkeurigheidstest van samenvoegende eenheid met de digitale digitale input van CT/VT
9) De test van de nauwkeurigheidsfout van digitale CT VT en kaliberbepaling van analoge waarde
10) De test van de verspreidingsgraad van bemonsteringsbericht
11) Integriteitstest van bemonsteringsbericht
12) De foutentest van de tijdvergelijking van samenvoegende eenheid
13) Tijd die foutentest van samenvoegende eenheid houdt
14) De tijdtest van de bemonsteringsreactie
15) De volledige analyse van het kaderbericht
Protocoltest: ASDU, bemonsteringspunten, periodiek nr., schatte time-delay, APPID, SVID, MC adres, Synchronisatiestatus
Volledige kaderanalyse, analyse de golfvorm van alle channles, het bemonsteren waarde & bericht oorspronkelijke gegevens
16) Kan de samenvoegende eenheid met frequentie of harmonische invloed kalibreren
17) De gegevens van de het puntfout van de verslagtest, geschikt voor gegevensonderzoek, opslag, en druk.
Contactpersoon: Mr. Tony Han
Tel.: 86-15237157117
Fax: 86-371-55692730
